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问题:

[判断题] 一般来说,被试设备的体积电容愈大,或局部集中缺陷的范围愈小,总体tanδ的数值增加也就愈小,对缺陷的反映愈不灵敏。

A、正确

B、错误

参考答案:
B

  参考解析

试题来源参考:

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